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導電性フォームの表面抵抗試験:ASTM D4935の実用ガイド

導電性フォームにおける表面抵抗の役割を理解する

表面抵抗は、導電性フォームのEMIシールド効果を決定する最も重要なパラメータの一つです。しかし、試験方法に一貫性がない場合は、データの信頼性が低くなることが多く、場合によっては10倍も異なることもあります。 「導電性フォーム選定ガイド:用途に適した材料の選択」で強調されているように、性能の一貫性を確保するには、表面抵抗値が実際の作業環境と一致する必要があります。

この記事は、ASTM D4935標準的なテスト方法を提供し、正確で再現性のある結果を必要とするエンジニアにステップバイステップの実践的なガイドを提供します。


ASTM D4935試験条件

ASTM D4935は、導電性材料の表面抵抗を測定するための平面法を規定しています。一般的な試験条件は次のとおりです。

  • 電極径: 25 mm(円形電極)

  • 適用圧力: 100 g/cm² (実際の組み立て圧力をシミュレート)

  • 環境: 23°C、相対湿度50%

  • 周波数: 1 kHz(低周波評価の基準周波数)

テスト手順:

  1. サンプルを 23°C / 50% RH で 24 時間前処理します。

  2. 初期の厚さを測定します。

  3. 校正済みゲージを使用して 100 g/cm² の圧力を加えます。

  4. 表面抵抗(Ω/□)を記録します。


よくあるテストエラーと解決策

  • 圧力の不正確さ:手動で押すと±20%の誤差が生じる可能性があります。デジタルフォースゲージを使用してください。

  • 電極サイズが正しくありません: 20 mm 未満の電極を使用すると、測定値が 30% 高くなる可能性があります。

  • 湿度が制御されていない場合: RH が 60% を超えると、抵抗が最大 25% 増加します。

導電性フォームの表面抵抗試験 – ASTM D4935 実用ガイド


ケーススタディ:5G基地局設計における誤解

ある5G基地局プロジェクトにおいて、メーカーはMIL-STD-202Gの点接触法を採用しましたが、その測定結果はASTM D4935の3分の1にしか達しませんでした。この誤ったデータに基づいて0.05Ω/□の材料が選択されましたが、実際のシールド性能はわずか55dBにとどまりました。

ASTM D4935による再試験の結果、実際の抵抗値は0.15Ω/□であることが確認されました。適切な材料選定により、シールド効果は80dBまで向上し、標準化された試験の重要性が浮き彫りになりました。


高周波に関する考慮事項(1~6 GHz 範囲)

5Gアンテナミリ波レーダーなどの高周波アプリケーションでは、1kHzを超える追加テストが必要です。

  • 1~6 GHz:最大 1 GHz までの拡張周波数テストを実行します。

  • 6 GHz 以上:高周波表面抵抗を正確に測定するには、ベクトル ネットワーク アナライザー (VNA)を使用します。


材料選択に関する主な推奨事項

応用要件標準
自動車用電子機器≤ 0.05Ω/□ASTM D4935
5G基地局1GHzデータを含めるASTM D4935 + VNA
サプライヤードキュメント条件付きの完全なテストレポート必須

最近の車載レーダー研究で指摘されているように、表面抵抗の変動は77GHzのEMI性能に直接影響を及ぼします。あるメーカーは、非標準試験により-40℃で表面抵抗が300%増加し、システム障害が発生したと報告しています。


テストの最適化手法

  • 接触抵抗を最小限に抑えるために導電性シリコンオイルを塗布します。

  • 高周波評価のために周波数掃引を10 MHz ~ 10 GHz まで拡張します。

  • 4 線式方式を使用してリード抵抗を除去します。

ASTM D4935条件下での導電性フォームの表面抵抗試験


ASTM D4935と他の性能試験の統合

実際のエンジニアリングでは、表面抵抗テストは圧縮永久歪みテスト (ASTM D3574)と並行して実行する必要があります。

例えば、新エネルギー車(NEV)用バッテリーパックプロジェクトにおいて、ある導電性フォームのバッチは、圧縮永久歪みが10%未満であったにもかかわらず、 70℃で抵抗が200%増加しました。このバッチは抵抗の不安定性のため、依然として不適合と判断されました。


結論

表面抵抗は静的なパラメータではなく、圧力、温度、周波数によって動的に変化します。ASTM D4935エンジニアは、実際の動作条件を正確に反映したデータを取得し、誤解を招く結果を回避できます。

"長期的な信頼性が製品の成功を決定します。正確な表面抵抗テストにより、初期の信頼性が保証され、高周波 EMI 設計の強固な基盤が構築され、材料の選択からシステム検証までの完全なフィードバック ループが形成されます。

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