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導電泡沫失效分析:從根本原因到永久解決方案

介紹

隨著電子設備朝向更高整合度、更薄的結構和更嚴苛的工作環境發展,導電泡棉電磁幹擾密封墊在接地、屏蔽和機械柔性方面發揮日益重要的作用。然而,與焊接可靠性、彈性退化和材料介面相關的失效模式仍然是主要風險。

基於19 年的工程數據、實驗室驗證和客戶回饋,康利達系統地總結了現實世界中導電泡沫失效案例,並提供預防性、設計級解決方案,以幫助工程師提高產品的長期可靠性。

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失效模式類別 I:SMT 焊接失效

SMT焊接缺陷是PCB級導電泡沫接地最常見的問題,直接影響電氣連續性和組裝良率。

表1. SMT焊接失效模式及根本解決方案

失敗現象根本原因機制康利達永久溶液
冷焊/弱焊點由於矽膠切割變形導致泡棉底部表面不平整;焊膏不足;回流焊曲線不匹配,阻礙了有效的金屬間化合物(IMC)形成。採用雷射精密切割,將底部平整度控制在±0.05 mm以內;採用微凸點或網格狀底部結構,以改善焊料流動性和氣體釋放;鍍金聚酰亞胺(PI)薄膜,以實現優異的潤濕性和更強的Cu-Sn-Au金屬間化合物(IMC)形成。
回流焊過程中元件移位較小的泡棉尺寸(≤2毫米)會導致焊錫熔化過程中表面張力不平衡,從而將元件拉離原位。底部結構採用凹槽固定焊膏;階梯式鋼網設計用於重新平衡焊料體積;表面張力模擬用於預測和糾正位移風險
墓碑效應加熱不均勻或預熱速率過高會導致一端在完全潤濕前翹起。泡沫芯材導熱係數均勻控制;最佳化的「帳篷狀」回流焊曲線,延長預熱時間,實現同步加熱

相關技術參考資料:
SMT密封墊片-小巧且強大的電子設備電磁幹擾防護
https://www.konlidainc.com/article/smtgaskets.html

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第二類失效模式:壓縮和彈性退化

導電泡棉起到彈性元件的作用。壓縮恢復能力或接觸壓力的損失會隨著時間的推移直接降低電磁幹擾屏蔽效能

表2. 與壓縮相關的失效模式及工程對策

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永久壓縮裝置聚氨酯或橡膠泡沫在長期應力作用下發生不可逆的聚合物鏈滑移或斷裂高回彈矽膠泡棉芯材,具有交聯結構;在25%壓縮下72小時後永久變形小於5%;中空或多孔結構,可在高可靠性應用中分散應力
應力鬆弛(彈性力喪失)在持續壓縮下,接觸壓力隨時間衰減,導致接觸電阻增大。進行長達1000小時的壓力-時間曲線測試,以預測其使用壽命性能;採用AIR LOOP泡沫材料結合低應力彈簧鋼絲,以平衡低初始力和長期穩定性。
側向坍塌/屈曲高寬比過大會導致穩定性下降和接觸面積減少。設計指引建議長寬比≤2:1;超出此範圍時需採用內部防塌陷骨架;各向同性導電泡棉可作為替代方案。

相關資料概論:
什麼是導電泡沫?其結構、材料及電磁幹擾功能
https://www.konlidainc.com/article/conductivefoam.html

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第三類失效模式:材料介面與環境失效

導電層與基板之間的界面完整性對於維持電氣性能和機械耐久性至關重要,尤其是在動態或惡劣的環境中。

表 3. 材料與界面失效模式及根本解決方案

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導電鍍層分層金屬塗層與聚醯亞胺薄膜或導電織物在彎曲或高溫/高濕條件下黏合力不足等離子表面預處理結合專利梯度電鍍技術,附著力提升高達 300%;必須透過 ASTM D3359 劃格試驗 (5B) 和 24 小時 85°C/85% RH 驗證
聚醯亞胺薄膜/導電織物疲勞斷裂在可折疊手機等動態設備或震動環境中,重複彎曲會超過材料的疲勞極限。高柔性聚醯亞胺薄膜(伸長率>50%)或高韌性導電織物;彎曲疲勞模擬和臨界半徑處的局部增強
環境腐蝕微孔或塗層缺陷允許腐蝕性物質滲透和擴散,從而顯著提高耐腐蝕性。經48小時NSS鹽霧試驗驗證,採用完全緻密、無孔隙的電鍍製程;可選配碳塗層織物或用於沿海和化學環境的防護塗層。

相關腐蝕問題分析:
導電矽橡膠的隱密腐蝕
https://www.konlidainc.com/article/rubber.html

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康利達的故障分析架構:從被動式修復到預防性設計

康利達建立了一套全面的故障分析(FA)系統,旨在消除設計和製程階段的風險:

  • 故障資料庫:包含超過 1000 個記錄在案的案例,涵蓋材料、結構、製程和應用。

  • 進階分析工具: SEM/EDS 用於微觀結構和成分分析,DMA 用於黏彈性行為表徵

  • 基於DFMEA的設計:將失效模式納入早期設計評審,並在生產前製定預防措施。


工程師預設計檢查清單

在最終確定導電泡棉設計之前,請確認以下事項:

  1. 回流焊製程參數是否與泡棉材料的熱性能和尺寸相符?

  2. 在工作溫度下,應力鬆弛性能是否符合壽命要求?

  3. 振動、彎曲和長寬比風險是否得到妥善解決?

  4. 電鍍保護是否足以抵抗汗水、清潔劑或污染環境?

  5. 驗收標準(初始阻力、壓縮力、鹽霧試驗)是否明確定義並經過驗證?

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結論

本文中提出的所有失效機制和糾正策略均源自康力達的實驗室驗證和實際客戶應用。透過從根本解決SMT焊接缺陷、壓縮退化和材料介面失效等問題,工程師可以顯著提高先進電子系統的EMI屏蔽可靠性和產品壽命

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